惰性气体同位素实验室

一：分析测试项目

1.硅酸盐（含陨石）稀有气体(He, Ne, Ar, Kr, Xe)同位素测试

2.单矿物（单次压碎法和激光加热法释气）稀有气体同位素测试

3.矿物流体包裹体（一次性静压释气法）稀有气体同位素测试

二：仪器介绍

1.多接收惰性气体质谱功能原理：多接收惰性气体质谱仪（Helix MC Plus）离子源后形成带正电荷离子，不同荷质比（m/z）的离子束经过磁式质量分析器发生不同方向的偏转，利用法拉第杯或电子倍增器进行检测，通过高性能的数据采集和处理系统，最终获得稀有气体同位素比值。

2.主要参数：

1.质量数范围：1-140 amu，(满足从He-Xe的同位素组成检测)

2.分辨率：

a. 法拉第杯： ≥750（10%峰谷）（≥1500,0.3mm狭缝）

b. 电子倍增器：≥750（10%峰谷）（≥1500,0.3mm狭缝）

3.灵敏度：

a. Ar灵敏度：≥ 1*10-3 Amp/Torr ≤ 1.0 mA  离子源电流; 9.9kV加速电压

b. He灵敏度：：≥ 2*10-4 Amp/Torr  ≤ 1.2 mA 离子源电流;  9.9kV加速电压

4.分辨能力（Resolving Power）：离子源狭缝0.05mm时≥5000（5%-95%峰高）

5.可移动离子计数器

a.暗噪音：≤10cpm

b.离子计数率（yield）：≥80%

c.动态范围：1cps - 1,400,000 cps

6.丰度灵敏度：≤1 ppm (40Ar对39Ar的贡献) ，1*10-7 mbar

7.峰顶平坦度（法拉第杯 ）：±100ppm内≤ ±0.001（法拉第杯狭缝0.6mm时质量偏差）

二：分析方法

采用超低温技术分离He，Ne，Ar，Kr，Xe，并测定其同位素比值。分别采用真空下单次压碎以及CO₂红外激光加热的方式对岩石及单矿物样品进行释气，通过液氮冷阱、Zr-Al吸气剂泵及超低温冷阱（4-450K）实现对混合气体中He，Ne，Ar，Kr，Xe的纯化和分离。将分离后的稀有气体分别通过质谱仪进行同位素组成的检测，利用质谱仪所配的五组接收器系统，可以实现对Ne、Ar、Kr、Xe多个同位素的同时测量。

三：用户须知

送样要求为成分均一干燥粉末或单矿物颗粒大于1g，500-200μm。